BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀
關鍵詞：熱電材料，Seebeck系數，電導率， 電阻率，V-1裝置
產品介紹：
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試，是目前國內高等院校和材料研究所的重要設備。
對于熱電材料的研究，熱電性能測試是不可或缺的試驗數據。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數及電導率。主要原理和特點如下:
該裝置由高溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫，采用四點法的方式精確測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
一、適用范圍：
1、精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測均可以測試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
5、擁有自身專利分析軟件，獨立分析，過程自動控制，界面友好。
6、國內高等院校材料系研究或是熱電材料生產單位。
7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
8、很多其他工業和研究領域-每年都會誕生新的應用領域。
二、技術特點：
·解決高溫下溫控精度不準的問題，靜態法測量更加直觀的了解產品熱電材料的真正表征物理屬性。
· 溫度檢測可采用J、K型熱電偶，降低測試成本。
·試樣采用獨特的焊偶機構，保證接觸電阻最小以及測量結果的高重現性。
· 每次可測試1-3個樣品.
· 采用高級數據采集技術，避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差，可控溫場下同步測量賽貝克系數和電阻率。
三：主要技術：
測量溫度 室溫-600℃
同時測試樣品數量 1個
測量功能 賽貝克系數和電阻率，薄膜材料的Seebeck系數及電導率
控溫精度 0.5K
測量原理 塞貝克系數：靜態直流電；電阻系數：四端法
測量精度 塞貝克系數：＜±7％；電阻系數：＜±10％
樣品尺寸 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm
熱電偶導距 ≥6 mm
電 流 0 to 160 mA
氣 氛 高純度氬氣
加熱電極相數/電壓 單相，220V，
圖1 單一樣品測試系統原理示意圖