HA4200 低本底γ能譜儀
HA4200低本底γ譜儀是一款基于數(shù)字化脈沖波形處理技術(shù)的核檢測(cè)儀器。采用高分辨率NaI（Tl）探測(cè)器，可定量分析建筑材料及其制品中的γ放射性和空氣、土壤中的氡氣含量，可用于無機(jī)非金屬材料如大理石、花崗巖、玻璃、陶瓷、水泥、磚瓦、砂石、混凝土及制品等放射性檢測(cè)。廣泛應(yīng)用于海關(guān)檢驗(yàn)檢疫、建材、地礦、環(huán)保、疾控、科研機(jī)構(gòu)、高等院校、礦廠企業(yè)等領(lǐng)域和單位。
產(chǎn)品特色
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快速無損測(cè)量，可直接對(duì)樣品進(jìn)行劑量測(cè)定和核素識(shí)別；
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分體式低本底鉛室，有效屏蔽外界本底干擾；
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對(duì)指定核素進(jìn)行分析，自動(dòng)計(jì)算放射性核素含量及內(nèi)外照射指數(shù)；
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斷電自動(dòng)保存當(dāng)前測(cè)量譜圖，并支持?jǐn)帱c(diǎn)續(xù)采；
? 自動(dòng)采譜，引導(dǎo)性測(cè)量分析，操作簡(jiǎn)單，方便使用
技術(shù)參數(shù)
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探測(cè)器： NaI（Tl）晶體；
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能量分辨率：≤7.2% (@661.5keV，Cs-137)；
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能量范圍：30keV～3MeV（10MeV可選）；
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本底計(jì)數(shù)：＜5cps；
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MCA多道分析器：1024 道或2048道；
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微分非線性：＜0.05%；
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積分非線性：＜0.10%；
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穩(wěn)定性：24小時(shí)峰漂移≤±1.0%；
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測(cè)量元素范圍：Ra、Th、K、Rn. 137Cs、241Am等多種放射性核素，可按照用戶要求添加；
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支持定制，滿足不同用戶使用需求。
*技術(shù)說明，如有更改，恕不另行通知。