行業(yè)標準嚴格地講，不僅僅國內沒有沒有專門命名為半導體照明的標準,國外目前也沒有專門命名為半導體照明的標準，只有有關普通LED的測試標準和與普通光源有關的照明方面的標準。

普通LED的測試標準有：

 
（1）IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)

IEC60747-5半導體分立器件及集成電路

（2）IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)

IEC60747-5-2分立半導體器件及集成電路零部件5-2：光電子器件—分類特征及要素(1997-09)

（3）IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)  

IEC60747-5-3分立半導體器件及集成電路
零部件5-3：光電子器件—測試方法(1997-08)

（4）IEC60747-12-3 Semiconductor devices－part12-3:optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)

 
IEC60747-12-3半導體分立器件12-3：光電子器件
—顯示用發(fā)光二極管空白詳細標準（1998-02）

（5）CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)
CIE127-1997 LED測試方法（1997）

國際照明委員會（CIE）1997年發(fā)表CIE127-1997 LED測試方法，把LED 強度測試確定為平均強度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結構和探測器大小，這樣就為LED 準確測試比對奠定了基礎。雖然CIE 127－1997 測試方法并非國際標準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著技術的快速發(fā)展，許多新的LED技術特性CIE127-1997 LED測試方法沒有涉及。

 
目前，隨著半導體照明產業(yè)的快速發(fā)展，發(fā)達國家非常重視LED測試標準的制訂。如美國國家標準檢測研究所（NIST）正在開展LED測試方法的研究，準備建立整套的LED測試方法和標準。同時，許多國外大公司的研究和開發(fā)人員正在積極參與國家和國際專業(yè)化組織，制訂半導體照明測試標準。
如2002年10月28日，美國Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進行各自LED技術的交叉授權，并準備聯合制訂功率型LED標準，以推動市場應用。